目次

第1章　抵抗器のインピーダンス特性を調べる
　1.1 抵抗器の役割
　1.2 測定の前にはキャリブレーション
　1.3 各種抵抗器のインピーダンス特性

第2章　コンデンサのインピーダンス特性を調べる
　2.1 理想のコンデンサは存在しない
　2.2 各種コンデンサのインピーダンス特性
　2.3 同一静電容量でも品種が異なると特性は違う

第3章　コンデンサの損失係数の周波数依存性を調べる
　3.1 コンデンサの性能を示すクオリティ・ファクタ
　3.2 アルミ，タンタル電解，フィルム・コンデンサの差
　3.3 用途によってコンデンサの特徴をいかそう

第4章　コイルのインピーダンス特性とQを調べる
　4.1 コイルの役割
　4.2 コイルの等価回路
　4.3 コイルの種類と用途

第5章　フェライト・コアのR-X特性を調べる
　5.1 R-X特性について
　5.2 テストするコアの材質
　5.3 FTシリーズ・コアのR-X特性
　5.4 フェライト・ビーズのR-X特性

第6章　セラミック，水晶振動子のインピーダンス/位相特性を調べる
　6.1 どんな素子の何を調べるか
　6.2 機械的振動子の電気的な等価回路
　6.3 各種振動子のインピーダンス/位相特性

第7章　EMIフィルタの特性を調べる
　7.1 EMIフィルタの目的
　7.2 EMIフィルタの動作原理と特性評価方法
　7.3 各種EMIフィルタの特性

第8章　コモン・モード・チョークの特性を調べる
　8.1 コモン・モード・チョークの構造と動作
　8.2 各種コモン・モード・チョークの特性

第9章　LCR回路網の特性を調べる
　9.1 もっとも簡単なCR回路
　9.2 各種LCR回路網の特性

第10章　信号用リレー接点の特性を調べる
　10.1 リレー接点の特性
　10.2 リレー接点のインピーダンス特性
　10.3 インピーダンス特性以外のリレー接点の特性

第11章　フォトMOSリレーの交流特性を調べる
　11.1 フォトMOSリレーの特徴
　11.2 AQV20シリーズ(松下電工)をテストする

第12章　フォト・カプラのAC特性を調べる
　12.1 フォト・カプラの分類と内部回路構成
　12.2 周波数特性の測定
　12.3 応答周波数,スイッチング特性の測定
　12.4 電圧を発生できるTLP590B
　12.5 MOS/IGBTゲート・ドライブ用カプラ
　12.6 IFモニタ波形のアンダーシュートについて
　コラム CTRについて

第13章　各種ケーブルの特性インピーダンスを調べる
　13.1 特性インピーダンスZ0は何で決まるか
　13.2 特性インピーダンスの測定方法
　13.3 各種ケーブルの実測結果

第14章　絶縁型DC-DCコンバータの出力ノイズを調べる
　14.1 テストするDC-DCコンバータ
　14.2 各種DC-DCコンバータの出力ノイズ
　14.3 出力ノイズの減少方法

第15章　可変容量ダイオードの容量変化特性を調べる
　15.1 一般半導体の接合容量
　15.2 可変容量ダイオードの使われ方
　15.3 可変容量ダイオードの電気的特性
　15.4 性能指数"Q"について

第16章　基本的なトランジスタ回路の特性を調べる
　16.1 NPNトランジスタの簡略モデル
　16.2 トランジスタ基本回路
　16.3 エミッタ接地増幅回路
　16.4 トランジスタの高周波特性を調べる
　16.5 ベース接地増幅回路
　16.6 コレクタ接地増幅回路
　16.7 NPN-PNP 2段接続のエミッタ・フォロワ

第17章　バッファ回路の特性を調べる
　17.1 古典的なバッファ回路
　17.2 高性能コンプリメンタリ・バッファ回路
　17.3 高入力インピーダンス・バッファ回路
　17.4 FET入力のエミッタ・フォロワ回路

第18章　トランジスタのスイッチング特性を調べる
　18.1 NPNトランジスタ・スイッチング回路
　18.2 PNPトランジスタ・スイッチング回路
　18.3 MOS FETスイッチング回路